半导体FT客制化测试系统

    • 半导体FT客制化测试系统(图1)
    • 产品概述

      联合仪器MEMS测试系统UI320A采用测试机加转台的构架,是对MEMS陀螺仪和加速度计的测试平台。可对MEMS传感器芯片进行测试,支持I2C/SPI的通讯方式,提供免费的开源软件底层API基于C开发,支持VC,VC++,labview等。

    • 半导体FT客制化测试系统(图2)
    • 产品特点

      ● 通过高精度马达进行系统运动
      ● 采用高集成度控制,通过PLC控制电路直接执行功能,简化编程工作
      ● 预设执行动作,自定义控制
      ● 可以支持多达36site并行同步测试
      ● 可以根据需求进行扩展
      ● 支持自定义开发

      集成测试系统的主要技术指标见下表

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    • 基本功能和性能


      目标器件:
      ● 陀螺仪,加速度计等
      产品功能:
      ● Open/Short测试
      ● 负载电流测试
      ● DC参数测试
      ● 三轴low-g测试
      ● 三轴角速度测试
      ● 温度测试

半导体FT客制化测试系统

010-58816565